TEMAS II CURSO DE TÓPICOS DE MATERIA CONDENSADA

Pedro Orellana

Transporte electrónico a través de nanoestructuras

Héctor Rivera

PUNTOS CUÁNTICOS
Conceptos básicos de mecánica cuántica
Conceptos básicos de estructura electrónica
Estructura electrónica de semiconductores.
Sistemas bidimensionales.
Efecto Hall cuántico.
Efecto de campos AC sobre sistemas bidimensionales.
Grafeno y otros alótropos de carbono.
Estructura electrónica del grafeno.
Puntos cuánticos de semiconductores.
Puntos cuánticos de grafeno.
Computación en paralelo.
OpenMPI vs OpenMP

Armando García

DIFRACCIÓN DE RAYOS X Y REFINAMIENTO DE ESTRUCTURAS CRISTALINAS
Introducción a los Rayos X: Aspectos históricos
Generación de Rayos X: Métodos convencionales (ánodo rotatorio y tubo) y radiación sincrotrón. Espectros continuo y característico
Propiedades de los Rayos X:
Interacción Radiación-Materia: Dispersión coherente e incoherente, fluorescencia, polarización, coeficiente de absorción.
Sistemas Cristalinos: Celda unitaria, redes de Bravais, índices de Miller (posición y orientación de los planos en un cristal).
Simetría en Cristales: Grupos de simetría, representación de grupos espaciales, posiciones de Wyckoff, Tablas Internacionales.
Teoría de Difracción de Rayos X: Difracción por electrones y átomos, difracción por un arreglo ordenado de ótomos, Ley de Bragg, intensidad de difracción, factores de estructura, temperatura, multiplicidad y absorción. Reflexión. Esfera de Ewald.
Medidas de Difracción de Rayos X: Medidas de difracción de polvo y tratamiento de datos.
Determinación de Estructuras Cristalinas: Indexación de cristales cúbicos, tetragonales y ortorrómbicos. Efectos de distorsión de la celda.
Instrumentación: Monocromadores, filtros, rejillas, detectores. Geometría del difractómetro. El uso de Bragg-Brentano. El uso de haz paralelo incluyendo componentes como espejos y colimadores.
Errores Instrumentales: Divergencia axial, muestra plana, desplazamiento de la muestra.
Errores debidos a la Muestra: Absorción, transparencia, tamaño de cristalito, tensión, fluorescencia.
Refinamiento por el Método de Rietveld: Fundamento teórico, estrategias de refinamiento, parámetros importantes, calidad de datos y refinamiento de estructuras cristalinas.
Aplicaciones Prácticas del Refinamiento de Rietveld.

Daniel Biggemann

Microscopía electrónica de transmisión de alta resolución (HRTEM) como técnica de cartacterización cualitativa y cuantitativa de sistemas nanoestructurados

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